DD ENV 50219-1996 欧洲微型试验芯片的可靠性试验结构描述
作者:标准资料网 时间:2024-05-21 20:09:48 浏览:8677
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【英文标准名称】:DescriptionofthereliabilityteststructuresoftheEuropeanminitestchip
【原文标准名称】:欧洲微型试验芯片的可靠性试验结构描述
【标准号】:DDENV50219-1996
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1996-09-15
【实施或试行日期】:1996-09-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:失效;系统分析;集成电路;计算机应用;数字集成电路;微处理机芯片;电子设备及元件;晶体管;半导体器件;金属氧化物半导体;尺寸;模数;估计可靠性;试验设备;可靠度
【英文主题词】:
【摘要】:DocumentstheparametrizedteststructuresoftheJESSIReliabilityTestChip(RTC)whichispartoftheEuropeanMiniTestChip(ETC).
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:42P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:欧洲微型试验芯片的可靠性试验结构描述
【标准号】:DDENV50219-1996
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1996-09-15
【实施或试行日期】:1996-09-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:失效;系统分析;集成电路;计算机应用;数字集成电路;微处理机芯片;电子设备及元件;晶体管;半导体器件;金属氧化物半导体;尺寸;模数;估计可靠性;试验设备;可靠度
【英文主题词】:
【摘要】:DocumentstheparametrizedteststructuresoftheJESSIReliabilityTestChip(RTC)whichispartoftheEuropeanMiniTestChip(ETC).
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:42P;A4
【正文语种】:英语
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